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TTSM Shadow Moiré

Competenza, Consulenza, Progettazione, Supporto Tecnico

TTSM Shadow Moiré

TTSM misura di complanarità

Il sistema metrologico TTSM (Table Top Shadow Moiré) offre una topografia superficiale ultraveloce per supporti fino a 330 mm x 330 mm. Utilizzando la tecnologia Shadow Moiré brevettata di Akrometrix, TTSM è progettato per quei clienti che devono misurare vari substrati per la deformazione in meno di 2 secondi. Con una risoluzione z di 1,25 micron, il TTSM può essere posizionato su un tavolo per misurazioni facili e veloci utilizzando la suite di programmi software di Akrometrix per consentire una varietà di utili funzioni per ottimizzare e fornire report significativi.

TTSM è in grado di gestire praticamente qualsiasi substrato e può contenere un wafer da 300 mm o 2 vassoi JEDEC. E con il software di tracciamento delle parti di Akrometrix, è in grado di rilevare automaticamente dimensioni ripetute dei dispositivi e segnalarle singolarmente. Con un peso di soli 70 libbre, il TTSM è perfetto per quei laboratori o aree di produzione che necessitano di un metodo rapido e affidabile per determinare la deformazione di vari substrati.

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