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Categoria: Sistemi di Metrologia

Competenza, Consulenza, Progettazione, Supporto Tecnico

AXP 2.0 misura della deformazione termica

TherMoiré® AXP 2.0 è una soluzione metrologica modulare che utilizza la tecnica di misurazione dell’ombra moiré, combinata con un passo di fase automatizzato, per caratterizzare lo spostamento fuori piano per campioni fino a 400 mm x 400 mm. Con la funzionalità di profilazione tempo-temperatura, TherMoiré® AXP 2.0 acquisisce una cronologia completa del comportamento di un…
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TTSM Shadow Moiré

Il sistema metrologico TTSM (Table Top Shadow Moiré) offre una topografia superficiale ultraveloce per supporti fino a 330 mm x 330 mm. Utilizzando la tecnologia Shadow Moiré brevettata di Akrometrix, TTSM è progettato per quei clienti che devono misurare vari substrati per la deformazione in meno di 2 secondi. Con una risoluzione z di 1,25…
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PS200S misura della deformazione termica

PS200S misura della deformazione termica TherMoiré® PS200S è una soluzione metrologica che utilizza la tecnica di misurazione dello shadow moiré combinata con lo stepping di fase automatizzato per caratterizzare lo spostamento fuori dal piano per campioni fino a 150 mm x 200 mm. Con la funzionalità di profilazione tempo-temperatura, TherMoiré® PS200S acquisisce una cronologia completa…
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